品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 | 產地類別 | 進口 |
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應用領域 | 環(huán)保,綜合 |
泰勒霍普森、粗糙度儀DUO
泰勒霍普森便攜式儀器SURTRONIC DUO粗糙度測量儀
型號:SURTRONIC DUO
探頭系統(tǒng):探頭系統(tǒng)
表面粗糙度測量范圍:199μm,40μm
掃描路徑:5mm
表面粗糙度分辨率:0.01μm
閾值波長:0.8 mm
數據傳輸類型:USB
英國泰勒霍普森粗糙度測量裝置SURTRONIC DUO,具有內部進料單元的移動粗糙度測量裝置,小巧便攜,通用功能,用戶友好的界面,適合地板等表面粗糙度測量。
應用:
用戶友好的移動粗糙度測量裝置,用于參數Ra,Rz,Rp,Rv,Rt,Rz1max,R3z(戴姆勒DB N 31007),Rsk,Rq和Rku的標準粗糙度測量。