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菲希爾鍍層測厚儀Fischer X射線

菲希爾鍍層測厚儀Fischer X射線

簡要描述:
菲希爾鍍層測厚儀Fischer X射線,FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀,通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度,從元素氯(17)到鈾(92),可同時(shí)測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。菲希爾X射線測厚儀

更新時(shí)間:2024-03-18

訪問量:369

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,制藥,綜合

菲希爾鍍層測厚儀Fischer X射線

菲希爾X射線測厚儀參數(shù)

設(shè)計(jì)用途

采用能量色散型X射線熒光光譜法(EDXRF),

用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度

元素范圍從元素氯(17)到鈾(92),可同時(shí)測定24種元素。
重復(fù)性測量金元素時(shí)≤1‰,測量時(shí)間60秒
形式設(shè)計(jì)臺式儀器,測量門向上開啟
測量方向由下往上
X射線源
X射線管帶鈹窗口的鎢靶射線管
高壓三檔:30KV,40KV,50KV
孔徑(準(zhǔn)直器)φ1mm;可選φ2mm
測量點(diǎn)尺寸當(dāng)測量距離MD=0mm時(shí),測量點(diǎn)直徑=孔徑直徑+200μm
X射線探測
X射線探測器采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器

能量分辨率

(Mn元素Kα半高寬)

≤180eV
測量距離0...10mm
通過DCM測量距離補(bǔ)償法,可在不同測量距離上不需要重新校準(zhǔn)就能進(jìn)行測量;對于特殊的應(yīng)用或者對測量精度要求較高的測量,可能需要進(jìn)行額外的校準(zhǔn)。
樣品定位
樣品放置手動
視頻系統(tǒng)CCD彩色攝像頭,可沿著初級X射線光束方向,手動焦距,對被測位置進(jìn)行監(jiān)控
十字線(帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸),可調(diào)節(jié)亮度的LED照明
圖像發(fā)達(dá)倍數(shù)40x~160x
工作臺
形式設(shè)計(jì)固定工作臺
樣品放置可用區(qū)域310x320mm
樣品允許重量
13KG
樣品允許高度90mm
電氣參數(shù)
電源要求AC 220V 50Hz
功耗120W(不包括計(jì)算機(jī))
保護(hù)等級IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸(寬x深x高)403x588x365mm
重量大約45KG
環(huán)境要求
使用時(shí)溫度10℃~40℃
存儲或運(yùn)輸時(shí)溫度0℃~50℃
空氣相對濕度≤95%,無結(jié)露
計(jì)算單元
計(jì)算機(jī)
Windows®-PC
軟件標(biāo)準(zhǔn):Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能
可選:Fischer WinFTM®
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
CE合格標(biāo)準(zhǔn)

EN 61010

X射線標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 3497 和ASTM B 568
形式批準(zhǔn)
符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)的規(guī)定


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