SURTRONIC DUO粗糙度儀泰勒

SURTRONIC DUO泰勒霍普森新型粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，其設(shè)計可滿足不同的技術(shù)與工作環(huán)境要求。
SURTRONIC DUO泰勒霍普森新型粗糙度儀快速測量 在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可
攜帶方便 DUO粗糙度儀 可應(yīng)用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。
經(jīng)外接口 無錫駿展儀器供應(yīng)操作者可在距離被測工件 1m 處操作測量。
校準方便 DUO 粗糙度儀具有自身校準標準，無錫駿展儀器可預(yù)設(shè)標準值，通過 LCD 顯示出來。
測針保護 不用時，設(shè)“ park "位置可全面保護測針。
人體工程學設(shè)計
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO新型粗糙度儀量 程： 200um
行 程： 5mm
取樣長度： 0.8mm+/-15%
參 數(shù)： Ra ： 0.1um-40um Ra ： 0.1um-199um
精 度： Ra:0.1um Rz:0.1um
尺 寸： 125*80*38mm
檢測方式： 壓電式
SURTRONIC DUO新型粗糙度儀重 量： 200g