庫(kù)倫法測(cè)厚儀菲希爾代理

菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀用于質(zhì)量控制的庫(kù)侖法鍍層厚度測(cè)量?jī)x

在一定的厚度以上，X射線熒光對(duì)鍍層的無(wú)損測(cè)量達(dá)到了極限，這就是COULOSCOPE®CMS2發(fā)揮作用的地方。它用庫(kù)侖法測(cè)量多種金屬鍍層的厚度，這是做相當(dāng)簡(jiǎn)單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準(zhǔn)確地測(cè)量許多常見的單層和多層鍍層。用于質(zhì)量控制的庫(kù)侖法鍍層厚度測(cè)量?jī)x

庫(kù)侖法的成本效益高，可準(zhǔn)確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測(cè)量方法。它為您提供了很大的靈活性，因?yàn)樗梢杂糜趶V泛的鍍層組合。您可以使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監(jiān)測(cè)印刷電路板上的殘余純錫厚度。

菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀STEP測(cè)試:庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳的電化學(xué)電位測(cè)量

如果你想在使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度的同時(shí)測(cè)量電化學(xué)電勢(shì)，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測(cè)試方法可以同時(shí)測(cè)量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度，非常適合測(cè)定這些鍍層的腐蝕行為。

菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀特性

• 高精度測(cè)量多層金屬鍍層的厚度(庫(kù)侖法)

• 根據(jù)DIN EN ISO 2177進(jìn)行測(cè)量

• 通過彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作

• 可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)

• 針對(duì)不同鍍層系統(tǒng)(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預(yù)先設(shè)定了近100種測(cè)量應(yīng)用

• 測(cè)量單元上電壓曲線的圖形顯示

• 圖形和統(tǒng)計(jì)評(píng)估

• 帶支撐架的部分自動(dòng)化測(cè)量，適用于各種樣品尺寸

• 全面的配件組合，以適應(yīng)特定的要求